诊断检测产业规模庞大，预计到2025年，全球半导体缺陷检测市场规模将达390亿美元，医疗实验室检测市场规模更高达1250亿美元。德克萨斯大学麦库姆斯商学院信息、风险与运营管理系决策科学助理教授罗汉·古格指出，评估计算机芯片与人体等复杂系统时，这两种测试具有共性。

该学院一项新研究提出测试复杂系统新方法，通过消除不必要且昂贵步骤来节省时间。研究题为“非自适应随机分数分类和可解释半空间评估”，发表于《运筹学》期刊。目前，临床医生对复杂系统测试常采用分轮测试，每一轮排除潜在问题并为下一轮准备，但古格认为这种方法耗时过长。

古格设想，若只需一轮测试就能在短时间内提供关键信息，且方案能同时用于芯片或诊所，那将大大提高效率。他强调：“我们需要高度可扩展、易于部署且统一的产品。”古格与纽约大学阿努帕姆·古普塔、密歇根大学维斯瓦纳特·纳加拉詹合作，设计出一套将两组目标相反测试结合起来的方案，一组诊断系统是否正常运行，另一组诊断系统是否故障，两组结合提供风险概览。

古格以“心脏评分”为例，说明该方案在医学上的应用。在模拟实验中，他的算法速度比顺序算法快100多倍，虽平均成本高出22%，但检测速度大幅提升。他同时指出，一次性进行一批测试可能降低设置成本。古格希望下一步将算法应用于实际测试，如宽带互联网网络日常测试，快速诊断系统或子系统是否正常运行。

更多信息： Rohan Ghuge 等人，《非自适应随机评分分类和可解释半空间评估》，运筹学(2025)。