试样制备 从每一被试试样上切取两个绝缘样段和护套样段，按GB/T2951.1第9章规定的试验方法制备试样及测量截面积后进行试验 哑铃试件应在除去所有凸脊和半导体电层后从绝缘和护套内层制取。试片厚度应不小于0.8mm，不大于2.0mm。如果不能制......试样制备 从每一被试试样上切取两个绝缘样段和护套样段，按GB/T2951.1第9章规定的试验方法制备试样及测量截面积后进行试验 哑铃试件应在除去所有凸脊和半导体电层后从绝缘和护套内层制取。试片厚度应不小于0.8mm，不大于2.0mm。如果不能制备0.8mm厚的试片，则允许其最小厚度为0.6mm。
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