加州大学圣地亚哥分校的研究人员利用长读全基因组测序(LR-WGS)识别出与自闭症谱系障碍相关的新基因变异。这项发表在《细胞基因组学》上的研究分析了267个自闭症家庭的基因组，发现LR-WGS技术能够发现传统短读长测序难以检测的基因突变类型。

研究团队通过LR-WGS技术，在检测基因破坏结构变异和串联重复序列方面，分别比传统方法提高了33%和38%的发现率。研究人员还结合DNA甲基化分析，进一步理解了这些基因变异如何影响基因功能。LR-WGS作为新兴的测序方法，能同时读取基因组较大区域，为探索自闭症的遗传基础提供了新视角。

加州大学圣地亚哥分校医学院教授乔纳森·塞巴特表示：“长读长技术在单一基因组序列中获取多样化功能信息方面具有改变游戏规则的因素。这项技术可以加深我们对自闭症及其他神经发育障碍遗传基础的理解，最终可能带来更好的诊断和靶向治疗。”

研究发现的基因变异包括复杂重排，这些变化可能干扰基因功能并促进自闭症发展。通过结合LR-WGS和DNA甲基化分析，研究团队能够更全面评估基因变异的功能影响。研究人员指出，LR-WGS有助于解释自闭症研究中长期存在的“缺失遗传率”问题，部分隐藏的基因变异可能通过该方法被识别。

研究团队认为，这些发现可能为更准确的遗传检测奠定基础。虽然这项研究是迄今规模最大的同类研究之一，但研究人员提醒需要更大规模研究来验证LR-WGS在解释自闭症遗传因素方面的作用。塞巴特假设，LR-WGS可能使某些类型变异所解释的遗传率翻倍。

LR-WGS的应用有望推动针对自闭症特定遗传机制的研究。通过单一测试揭示复杂遗传变异及其功能后果，这项技术为理解自闭症的遗传起源提供了新工具，并可能推动未来相关疗法的开发。

出版详情：标题：长读长基因组测序提升了自闭症中结构和重复变异的检测和功能解释，发表于：《细胞基因组学》(2026年)，期刊信息：细胞基因组学