维度网讯，安立（Anritsu）将在全球射频与微波顶级会议IMS 2026上展出其测试与测量领域的最新进展。在17054号展位，该公司将设置现场演示和技术简报环节，重点关注高频与宽带系统不断增加的复杂度。在安立（Anritsu）MicroApps研讨会中，人工智能在测试测量中的应用将成为焦点议题。

展示的测试测量仪器涵盖网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器、示波器、功率计和自动化测试设备。在展位上，参观者可以观看面向下一代测试挑战的现场演示，直接与工程师和技术专家交流，了解专为高速、高频应用设计的解决方案，并预览即将推出的创新成果。安立（Anritsu）工程师将现场与参观者交流，探讨系统测试、测量精度和性能优化的实用方法。

安立（Anritsu）还将在展位每天上午10:00和下午2:00各举行一次定时演讲，提供对新兴技术和应用场景的快速见解。此外，一场主题为“人工智能驱动下一代测试与测量仪器”的MicroApps研讨会定于6月11日上午11:44至11:59在IMS展厅MicroApps剧院举行，会议编号为THMA8。

该研讨会将聚焦人工智能在现代测试与测量中的作用，展示人工智能如何帮助工程师管理日益复杂的系统。研讨会将阐释人工智能如何提升测量速度、支持更具可扩展性的测试方法，并从庞大复杂的数据集中提供更深入的洞察。随着射频和无线系统复杂性持续增长，更高效、更智能的测试方法正变得不可或缺。

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