精密测量解决方案提供商LK Metrology近期推出了一款专为三坐标测量机设计的新一代激光扫描仪L100NX。这款扫描仪基于L100的成功经验，引入了蓝光激光技术，旨在提升扫描性能、测量精度和操作便捷性。

与采用红色激光的前代产品相比，L100NX使用450纳米蓝光激光，有效降低了扫描数据中的噪声，从而获得更清晰、可靠的测量结果。这一改进对于数据完整性要求较高的高精度应用场景，如航空航天和汽车制造领域，具有实际意义。

L100NX在速度和精度方面表现突出，具备110毫米的宽条纹宽度和每秒530,000点的扫描速率，适合高效检测大型部件。其高精度设计确保了能够应对各类检测任务。

该扫描仪的核心是第四代ESP技术，可智能调整激光线上所有2000个点的功率，使其能够无缝测量多材料组件和反光表面，无需额外表面处理或手动干预，简化了检测流程并减少了操作负担。

为增强实用性，传感器配备了集成旋转适配器，方便以最佳方向检测复杂零件几何形状。集成FOV投影仪则将扫描仪的覆盖区域直观投射到零件上，有助于简化编程和设置过程。

L100NX扫描仪套件采用防护外壳设计，除扫描仪本体外，还包含必要的附件和文档，支持操作与基本维护。

“L100NX代表了激光扫描技术的显著进步，”LK Metrology激光扫描仪产品经理Kristof Peeters表示，“通过整合蓝光激光精度与智能传感器性能及用户友好功能，我们提供了一个适应现代制造业需求的解决方案。这款蓝光激光扫描仪的推出体现了LK Metrology对开发创新测量设备的投入，旨在帮助客户提高检测效率和准确性。”