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日本理学株式会社近日宣布其自主研发的XTRAIA XD-3300高分辨率微点X射线衍射系统正式投入量产。该系统专为芯片制造市场设计,能够对晶圆上微型焊盘的超晶格结构进行无损检测,具有行业领先的分辨率。 该设备采用理学独...