Pickering Interfaces在美华盛顿展示HIL传感器仿真

Pickering Interfaces近期在华盛顿特区展示了其硬件在环(HIL)传感器仿真演示及相关测试解决方案。该演示安装在8槽Gen3 PXIe全混合模块化机箱中，集成了PXIe嵌入式控制器、PXI毫伏热电偶仿真模块，并搭配热电偶传感器和数据记录器。该方案主要面向航天等对测试精度要求较高的行业，用于支持电子测试与验证工作。

Pickering产品管理负责人Steven Edwards表示：“用于太空的设备要求绝对精确，因为恶劣的操作环境意味着最小的差异都可能导致灾难性的任务失败。设备必须在极端温度、压力和振动下可靠运行，同时无缝集成复杂系统以确保无故障操作。”他指出，航天领域的测试专业人员面临独特挑战，要求测试系统具备可靠性、高效性、可重复性和可扩展性。

除HIL传感器仿真演示外，该公司还展示了小型LXI微波交钥匙演示、4槽LXI/USB模块化机箱、PXI电源继电器模块、PXI RTD仿真模块、PXI电池仿真模块、PXI LVDT/RVDT/旋转变压器仿真模块以及PXI毫伏热电偶仿真模块等多款产品。此外，现场还展出了干簧继电器和定制电缆组件。Pickering Interfaces为其制造的产品提供标准三年保修和长期产品支持。