日本中央大学寇立助理教授团队在《通讯材料》发表最新研究成果，开发出基于半导体碳纳米管(CNT)薄膜的化学富集光热电(PTE)成像仪。这项技术显著提升了响应强度并降低噪声，为远程和现场无损检测提供了新方案。

该研究团队采用半导体碳纳米管薄膜作为核心材料，通过p/n型化学载流子掺杂技术，成功将PTE转换效率提升高达4060倍。寇立表示："这种化学富集方法有效解决了传统PTE器件在无线数据记录时响应强度不足的难题。"新型成像仪展现出超宽带光电检测能力，最小噪声灵敏度达到5 pWHz−1/2，响应信号强度可达几十毫伏。

相比传统设备，这种碳纳米管薄膜成像仪具有三大优势：首先，其响应强度提升十倍以上;其次，保持优异的机械变形性能;最后，兼容掌上无线电路，便于现场操作。研究团队已成功演示该设备在空中物体多波长监测中的应用。

在工业量产快速发展的背景下，无损检测技术需求日益增长。传统光成像仪受限于响应强度不足，难以满足远程检测要求。这项突破性研究为开发高性能、可变形光学传感器开辟了新途径，有望推动无损检测技术在工业领域的广泛应用。

更多信息： Kou Li 等，《一种化学富集、可反复变形、可自恢复的宽带无线成像片》，《通讯材料》(2025 年)。期刊信息： 通讯材料