芝加哥研究:S-ICD植入可安全省略除颤测试
2026-05-02 10:57
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维度网讯,S-ICD植入后或许无需常规除颤测试。根据PRAETORIAN-DFT随机试验,采用评分系统评估设备位置和植入技术时,可安全省略该步骤。研究在2026年美国芝加哥心律学会(HRS)会议上发布,并刊登于《循环》杂志。
试验纳入965名患者,随访中位41个月。仅当PRAETORIAN评分提示才进行除颤测试的患者,首次电击治疗自发性室性心律失常失败的比例为1.7%,低于常规测试组的2.3%(非劣效性P<0.001)。两组死亡率与术后S-ICD修正率相似,但除颤测试导致1.7%的患者出现并发症,如难治性心室颤动或呼吸骤停。

荷兰阿姆斯特丹大学医学中心的Reinoud E. Knops博士表示:“避免除颤测试可能提高操作安全性并简化S-ICD植入。”研究讨论者Andrea M. Russo博士指出,目前许多操作者已不再进行测试,而是依赖透视或阻抗,但这可能带来风险。PRAETORIAN评分通过胸部X光评估S-ICD位置,结合脂肪厚度、发生器位置和BMI预测成功率。Knops强调,仅凭阻抗不够,因为低阻抗可能意味着能量被胸壁分流。研究由波士顿科学公司资助。
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